超聲波探傷儀AVG曲線設(shè)定

超聲波探傷儀通用AVG線圖的應(yīng)用

超聲波探傷儀中AVG曲線描述了距離-增益量-缺陷尺寸三者之間的關(guān)系， 它能方便地用來(lái)進(jìn)行缺陷當(dāng)量的計(jì)算，所以它是一種主要的缺陷定量方法。相對(duì)缺陷距離A，是以探頭近場(chǎng)長(zhǎng)度N為單位來(lái)衡量的反射體距離，即A=N/S。 通用AVG線圖中以A作為橫坐標(biāo)，并用常用對(duì)數(shù)刻度。 相對(duì)缺陷尺寸G，是以探頭晶片直徑D為單位來(lái)衡量的反射體直徑，即G=Φ/D。 通用AVG線圖中對(duì)應(yīng)一個(gè)G就有一條相應(yīng)的曲線， 相鄰G值之間的變化也是常用對(duì)數(shù)規(guī)律。 波幅增益量V（dB）表示反射聲壓相對(duì)于起始聲壓的dB值。 通用AVG線圖中以V（dB）作為縱坐標(biāo)，采用十進(jìn)制常用坐標(biāo)。 由圖4可見(jiàn)，在A＜1，即近聲場(chǎng)內(nèi)，難以據(jù)超聲反射幅度判斷缺陷當(dāng)量，而在A＞1，即遠(yuǎn)聲場(chǎng)，超聲回波幅度隨距離單調(diào)下降。

超聲波探傷儀實(shí)用AVG線圖的應(yīng)用

實(shí)用AVG線圖是在通用AVG線圖基礎(chǔ)上經(jīng)坐標(biāo)變換得到的，它是針對(duì)某一確定的探頭晶片和探測(cè)頻率制作的，實(shí)用AVG線圖的橫坐標(biāo)為反射體實(shí)際聲程讀數(shù)，以厘米或毫米作為單位；縱坐標(biāo)為dB讀數(shù)，圖中每一條曲線直接表示某一相應(yīng)反射體當(dāng)量尺寸。 下面用圖4舉例說(shuō)明實(shí)用AVG線圖用于校正探測(cè)靈敏度和確定缺陷當(dāng)量的用法。 用2.5MHz、Φ20直徑探頭探測(cè)厚度為300mm的鍛鋼件， 要求大于Φ3當(dāng)量缺陷不漏檢，問(wèn)利用工件底面如何校正探測(cè)靈敏度？ 以此靈敏度探測(cè)時(shí)發(fā)現(xiàn)距探測(cè)面200mm處有一缺陷，其波高為19dB，求此缺陷當(dāng)量？

工作頻率的選擇

工作頻率的選擇是由被測(cè)材料的性質(zhì)和探傷要求決定的，對(duì)鑄鐵、未鍛件等可選用較低頻率，如1.25MHz；對(duì)晶粒度細(xì)的材料，如鍛鋼、拉拔鋁制件等則用2.5MHz、5MHz甚至10MHz。 工作頻率高，則探傷靈敏度高、方向性好、分辨能力強(qiáng)和始波寬度小等，有利于發(fā)現(xiàn)和評(píng)定缺陷；但頻率高，不易穿透晶粒度較粗的工件。 而工作頻率低，則分辨力也較低，但穿透力強(qiáng)，有利于克服材料的衰減。 一般常用工作頻率為2.5MHz和5MHz。